UV-A 紫外輻照計（單通道）適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

一、產品說明：

    UV-A型紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。執行企業標準Q/HDSDY0003－2014。

二、產品特點：

1、光譜及角度特性經嚴格校正

2、數字液晶顯示，帶背光

3、手動/自動量程切換

4、數字輸出接口（USB,冗余供電）

5、低電量提醒

6、自動延時關機

7、有數字保持

8、輕觸按鍵操作，蜂鳴提示

三、技術參數：

1、波長范圍λ1，峰值波長λp：（320～400）nm，λP＝365nm（二選一）

2、波長范圍λ2，峰值波長λp：（375～475）nm，λP＝420nm（二選一）

3、輻照度測量范圍：(0.1～199.9×10³) μW/cm2

4、紫外帶外區雜光：0.02%

5、相對示值誤差：±8％（相對于NIM標準）

6、角度響應特性：±5%（α≤10°）

7、線性誤差：±1%

8、換檔誤差：±1%

9、短期不穩定性：±1%（開機30min后）

10、疲勞特性：衰減量<>

11、零值誤差：滿量程的±1%

12、響應時間：<>

13、使用環境：溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH

14、尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg

15、電源：6F22型9V積層電池（非充電電池）

16、整機功耗：＜0.1VA